測試與量測

運用我們的類比與嵌入式處理產品和專業,達到更高測試密度,減少測試時間並提升準確度

利用我們的高性能訊號鏈、電源與處理器產品,打造創新且與眾不同的儀器與電子測試設備。我們提供領先業界的產品和特定應用的參考設計資源,幫助您解決最常見設計難題,加快上市時間。我們也能在電池化成和半導體 ATE 等應用中實現可擴展性和高性能。

為何選擇 TI 產品進行測試和量測應用?

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最低雜訊的設計

運用我們的高性能訊號鏈,低雜訊功率產品與參考設計,獲得最高 SNR 性能,加快上市時間。

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通道密度最大化

運用我們創新的封裝技術與產品,縮小訊號鏈及電源解決方案的尺寸以進行設計整合。

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達到高精密度和準確度

透過最新精密 ADC 與放大器符合您的性能需求,並強化性價比。

設計測試和測量的下一代產品

提高測試通道密度以滿足對 IC 的日益增長的需求,並增加 VI 儀器所需支援的電壓與電流。我們的功率放大器、開關和電源模組可縮減解決方案尺寸,增加測試通道密度。

Application brief
Pairing up Op Amp and Buffer for Higher Output Power Plus Speed in ATE
此應用說明主要探討使用精密放大器與高輸出電流緩衝器來達到主要系統需求的複合放大器迴路。
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Application brief
How to Select Precision Amplifiers for Semiconductor Testers (Rev. A)
半導體測試設備是重要且持續進化的產業。隨著半導體和積體電路不斷進化及拓寬電子產品的限制,測試設備必須持續改進。
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Application note
When to Replace a Relay with a Multiplexer
光繼電器、機械繼電器和平導通電阻多工器 - 在本應用說明中,我們回顧這三種解決方案在性能,成本,尺寸和可靠性方面的差異。
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Featured products for 測試通道密度
OPA462 ACTIVE 180-V, wide bandwidth (6.5 MHz), high-slew rate (25 V/µs) unity-gain stable op amp
OPA593 ACTIVE 85-V, 100-µV wide-bandwidth (10 MHz) high-output-current (250 mA) precision operational amplifier
TMUX8212 ACTIVE 100-V, flat RON, 1:1 (SPST), four-channel switches with latch-up Immunity and 1.8-V

將雜訊降到最低,這是工程師在設計對雜訊敏感的系統時,常遇到的一大挑戰,例如時脈、資料轉換器或放大器。雖然每個人對「雜訊」一詞的定義不盡相同,我們會將雜訊定義成由電路中電阻器和電晶體所產生的低頻率熱雜訊。

您可透過頻譜雜訊密度曲線 (單位為微伏特/平方根赫茲) 來識別雜訊,或是以均方根微伏特為單位找出整合式輸出雜訊 (通常為 100 Hz 至 100 kHz 間特定範圍)。我們提供可協助緩解可能影響訊號鏈裝置性能的潛在雜訊耦合的產品與參考設計。

您的資料轉換器或放大器需要負電壓供電嗎?這類系統通常需要低雜訊來為這類敏感類比電路供電。低雜訊反相降壓轉換器如何運作?閱讀更多。
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Analog Design Journal
Designing a modern power supply for RF sampling converters
了解如何利用新的直接射頻採樣架構解決系統功耗問題,該架構可簡化接收器訊號鏈,並降低系統功耗。
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More literature
Low-noise and low-ripple techniques for a supply without an LDO PPT
電源供應器設計研討會:不具 LDO 電源供應的低雜訊及低漣波技術詳細摘要
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Featured products for 低雜訊電源
TPS7A94 ACTIVE 1-A, ultra-low noise, ultra-high PSRR, RF voltage regulator
TPS7A57 ACTIVE 5-A, low-input-voltage, low-noise, high-accuracy low-dropout (LDO) voltage regulator
TPS62913 ACTIVE 17-VIN, 3-A low-noise and low-ripple buck converter with integrated ferrite bead filter compensation

設計與開發資源

Reference design
Modular battery tester reference design for 50-A, 100-A, and 200-A applications
This reference design provides a modular battery test solution allowing users to have the flexibility to test batteries at different current levels with one design. This design leverages the TIDA-01041 reference design by providing two 100-A battery testers that can work independently or be (...)
Reference design
Digital control cost-optimized 10-A battery formation and test reference design
This reference design provides a cost-effective solution for battery formation and test applications. This design uses the C2000™ real-time control MCU for high-resolution pulse-width modulation (PWM) generation, and constant-current (CC) and constant-voltage (CV)
control loops. It efficiently (...)
Reference design
LCR meter analog front end reference design
This reference design, TIDA-060029 demonstrates an analog signal chain solution for LCR Meter applications using an auto balancing impedance measurement method.

Reference designs related to 測試與量測

Use our reference design selection tool to find designs that best match your application and parameters.

Featured products

Precision ADCs ADS127L11 ACTIVE 24-bit, 400-kSPS, delta-sigma ADC with easy-to-drive inputs and wideband or low-latency filters
High-speed ADCs (≥10 MSPS) ADC3683 ACTIVE Dual-channel, 18-bit, 65-MSPS, low-noise, ultra-low-power, low-latency ADC
High-speed ADCs (≥10 MSPS) ADC12DJ5200RF ACTIVE RF-sampling 12-bit ADC with dual-channel 5.2 GSPS or single-channel 10.4 GSPS
Linear & low-dropout (LDO) regulators TPS7A94 ACTIVE 1-A, ultra-low noise, ultra-high PSRR, RF voltage regulator
Buck converters (integrated switch) TPS62913 ACTIVE 17-VIN, 3-A low-noise and low-ripple buck converter with integrated ferrite bead filter compensation
Buck modules (integrated inductor) TPSM8D6C24 ACTIVE 4-V to 16-V input, dual 35-A, PMBus® power module

技術資源

資源
資源
類比工程師計算機
類比工程師的計算機旨在加速類比電路設計工程師定期使用的許多重複計算。
資源
資源
PSpice® for TI 設計與模擬工具
PSpice® for TI 是有助於評估類比電路功能的設計和模擬環境。這款全功能設計和模擬套件使用 Cadence® 的類比分析引擎。
資源
資源
用於將精密 ADC 評估模組連接至 TMDS64GPEVM 或 TMDS243GPEVM PRU 的轉接卡
介接超過 25 個精密類比轉數位轉換器 (ADC) 評估模組 (EVM),以用於通訊、資料擷取和軟體開發。